產(chǎn)品無(wú)法在實(shí)驗室通過(guò)測試,并不是產(chǎn)品本身EMC設計不好,而是實(shí)驗室測試環(huán)境問(wèn)題導致測試不通過(guò)。
問(wèn)題1:EMC測試通過(guò)率低
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